單項選擇題渦流檢測線圈是在被檢測導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生()
A.電流
B.磁場
C.滿流
D.電磁
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1.單項選擇題缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()
A.絕對大小
B.相等大小
C.相對大小
D.相同大小
2.單項選擇題直接射向缺陷的波就是()
A.直通波
B.直射波
C.反射波
D.折射波
3.單項選擇題當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時,如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的()
A.全部
B.兩倍
C.三倍
D.一半
4.單項選擇題在遠(yuǎn)場區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時,缺陷波高與缺陷面積成()
A.反比
B.倍數(shù)
C.正比
D.無關(guān)
5.單項選擇題在聲束垂直試件表面時,所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
A.缺陷
B.損壞
C.缺損
D.殘缺
最新試題
掃查方式一般視試件的()而定。
題型:單項選擇題
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()
題型:單項選擇題
對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動,即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
題型:單項選擇題
根據(jù)檢測對象和目的的不同,渦流檢測儀器一般可分為()、渦流電導(dǎo)儀和渦流測厚儀三種。
題型:單項選擇題
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
題型:單項選擇題
渦流檢測線圈是在被檢測導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生()
題型:單項選擇題
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號的同時具備探傷、電導(dǎo)率測量()測量功能的通用型儀器。
題型:單項選擇題
對檢測儀的時間基線進(jìn)行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
題型:單項選擇題
渦流檢測線圈感應(yīng)和接收材料或零件中感生渦流的再生磁場的傳感器,它是構(gòu)成()系統(tǒng)的重要組成部分,對于檢測結(jié)果的好壞起著重要的作用。
題型:單項選擇題
特性是指實體所特有的性質(zhì),它反映子實體滿足需要的()
題型:單項選擇題