A.測(cè)速和磁記號(hào)
B.測(cè)速和時(shí)間標(biāo)記
C.磁記號(hào)和張力曲線
D.測(cè)速、張力曲線、時(shí)間標(biāo)記和磁記號(hào)
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A.幅度變小,半幅點(diǎn)上移
B.幅度變小,半幅點(diǎn)下移
C.幅度變大,半幅點(diǎn)上移
D.幅度變大,半幅點(diǎn)下移
A.測(cè)井速度是根據(jù)儀器特性、處理軟件和地質(zhì)要求確定的
B.測(cè)速過快將降低儀器縱向分辨率
C.幾種儀器組合時(shí)應(yīng)采用最低測(cè)速儀器的測(cè)速
D.測(cè)速過快影響曲線幅度,但對(duì)深度沒有影響
A.±0.1
B.±0.05
C.±0.03
D.±0.01
A.主刻度
B.主校驗(yàn)
C.測(cè)前刻度
D.測(cè)后校驗(yàn)
A.主刻度
B.主校驗(yàn)
C.測(cè)前刻度
D.測(cè)后校驗(yàn)
最新試題
井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測(cè)量時(shí),發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的,與介質(zhì)的電阻率()。
簡(jiǎn)述VSP 測(cè)井影響因素。
電容法持水率計(jì)的現(xiàn)場(chǎng)刻度要求是什么?
井壁微電阻率掃描成像儀極板和井壁的間隙增大會(huì)()儀器的垂向分辨率。
在薄互層中,泥漿侵入對(duì)井壁微電阻率掃描成像測(cè)量響應(yīng)的影響較之厚層()。
核磁共振測(cè)井觀察的原子核具有選擇性,觀測(cè)地層流體中的()。
水平井中氣水兩相流動(dòng)時(shí)的流型有哪些?
核磁共振弛豫受三種機(jī)制控制:表面弛豫、體積弛豫和()。
()古潛山是指一定地質(zhì)時(shí)期由褶皺作用形成的古山頭,潛山本身就是一個(gè)背斜。
當(dāng)?shù)貙涌紫抖刃∮?5%時(shí),孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的絕對(duì)誤差小于()。