A.絕對(duì)深度
B.相對(duì)深度
C.斜井垂直深度
D.水平井垂直深度
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A.絕對(duì)深度
B.相對(duì)深度
C.斜井垂直深度
D.絕對(duì)—相對(duì)深度
A.絕對(duì)深度
B.相對(duì)深度
C.斜井垂直深度
D.自動(dòng)深度
A.絕對(duì)深度、相對(duì)深度
B.人工深度
C.儀器的深度
D.相對(duì)深度
A.各次測量電纜受力不同
B.井口置零不當(dāng)
C.探測儀記錄點(diǎn)的深度延遲計(jì)算有誤
D.各種測井曲線的測量原理不同
A.下井儀器的重量
B.儀器與井壁的接觸狀態(tài)
C.測速
D.儀器的工作狀態(tài)
最新試題
微電阻率成像三井徑曲線變化正常,除橢圓井眼外,在井眼規(guī)則處應(yīng)()。
微電阻率成像測井無效(壞)電極數(shù)不應(yīng)超過()。
核磁共振測量結(jié)果幾乎不受()影響。
泥質(zhì)砂巖地層核磁有效孔隙度應(yīng)小于或等于()孔隙度。
常規(guī)測井評(píng)價(jià)復(fù)雜巖性儲(chǔ)層存在的難點(diǎn)有哪些?
多極子陣列聲波測井首波波至?xí)r間曲線變化形態(tài)應(yīng)()。
脈沖中子能譜測井儀的主要用途是什么?
超聲波成像測井的影響因素為工作頻率、()、測量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。
井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測量時(shí),發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的,與介質(zhì)的電阻率()。
簡述VSP 測井影響因素。