單項(xiàng)選擇題采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
A.聲程
B.聲音
C.聲波
D.音程
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1.單項(xiàng)選擇題對(duì)檢測(cè)儀的時(shí)間基線進(jìn)行校正后，缺陷的埋藏深度可從熒光屏的（）上讀出。
A.水平刻度線
B.垂直刻度線
C.刻度線
D.水平線
2.單項(xiàng)選擇題對(duì)于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng)，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。
A.最小反射波高
B.最大反射波低
C.最大反射波高
D.最小反射波低
3.單項(xiàng)選擇題對(duì)于長(zhǎng)條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。
A.長(zhǎng)度方向
B.周長(zhǎng)方向
C.圓周方向
4.單項(xiàng)選擇題對(duì)于圓盤(pán)形試件，常沿（）在圓面上進(jìn)行掃查。
A.周長(zhǎng)方向
B.長(zhǎng)度方向
C.圓周方向
5.單項(xiàng)選擇題掃查方式一般視試件的（）而定。
A.形狀
B.形狀及入射方向
C.入射方向
D.方向
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對(duì)于圓盤(pán)形試件，常沿（）在圓面上進(jìn)行掃查。
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掃查方式一般視試件的（）而定。
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在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)，當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí)，缺陷波高與缺陷面積成（）
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