地質(zhì)編錄只包括現(xiàn)場編錄。

根據(jù)礦體的揭露情況及坑壁的平整情況，一般在首選壁的腰線（）位置布樣。

一般情況下，地質(zhì)界線投影時(shí)，常用壁下、壁頂、坑頂（）個(gè)投影繪圖點(diǎn)。

槽、井、坑探取樣，通常為刻槽法，其斷面規(guī)格原則上要進(jìn)行試驗(yàn)確定。

為了與采樣平面圖及地質(zhì)圖等對應(yīng)，素描時(shí)，一般圖的左側(cè)方位角為（），右側(cè)為0°~180°。

地質(zhì)樣品采樣方法分為取心法、刻槽法、剝層法、全巷法、連續(xù)打塊法、集束刻線法、方格法、撰取法等。

物探技術(shù)人員和地質(zhì)技術(shù)人員在勘查工作中應(yīng)密切配合，做到四共同，即共同設(shè)計(jì)部署、共同推斷解譯、共同查證異常、共同編寫報(bào)告。

一般情況下，地質(zhì)界線投影時(shí)，常用壁下、壁頂、坑頂3個(gè)投影繪圖點(diǎn)，這3個(gè)點(diǎn)基本上可以控制（）及坑頂兩個(gè)面上的地質(zhì)要素的基本形態(tài)。

單工程礦體的圈定主要依據(jù)邊界品位、最低工業(yè)品位、有害組分平均允許最高含量、夾石剔除厚度、最小可采厚度或最低工業(yè)米*百分值（米*克/噸值）等綜合考慮，同時(shí)應(yīng)注意礦體的劃分問題。

根據(jù)樣品內(nèi)、外檢管理規(guī)定，內(nèi)檢（）進(jìn)行一次。