A.50Hz-500Hz
B.100Hz-50KHz
C.50KHz–500KHz
D.500KHz–5MHz
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A.負(fù)相檢波
B.正相檢波
C.全相檢波
D.以上都可以
A.標(biāo)出該缺陷區(qū)域
B.去除表面所有涂層至滿足要求為止
C.提高增益或降低頻率重新檢查
D.指明該區(qū)域不適用脈沖回波法檢查
A.反射法
B.穿透法
C.聲振法
D.諧振法
A.去除掃查表面漆層和膠層至滿足要求為止
B.采用目視或膠接儀檢查
C.拆除該面板送修
D.在工作單上指明:該部位不適用超聲方法檢查
A.上面板
B.下面板
C.側(cè)面板
D.全面掃查
最新試題
實(shí)際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯誤的是()。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進(jìn)行()。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。