A.去除掃查表面漆層和膠層至滿(mǎn)足要求為止
B.采用目視或膠接儀檢查
C.拆除該面板送修
D.在工作單上指明:該部位不適用超聲方法檢查
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A.上面板
B.下面板
C.側(cè)面板
D.全面掃查
A.蜂窩積水
B.表面裂紋或腐蝕
C.脫粘
D.以上都可以
A.反射法
B.透射法
C.聲阻法
D.敲擊法
A.20mm
B.2mm
C.0.2mm
D.0.08mm
A.增加靈敏度
B.增加透射率
C.改善信噪比
D.提高分辨力
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
儀器水平線性影響()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
()是影響缺陷定量的因素。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱(chēng)為缺陷的()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
單探頭法容易檢出()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為()。