（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。

（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。

利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。

當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。

直接接觸法是指探頭與工件之間（）。

實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做（）。

當調節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質衰減不同時，需要進行傳輸修正。

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。