A. 缺陷回波波高隨粗糙度增大而下降
B. 無影響
C. 缺陷回波波高隨粗糙度增大而增大
D. 以上都對
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A.小于實(shí)際尺寸
B.接近聲束寬度
C.稍大于實(shí)際尺寸
D.等于晶片尺寸
A.缺陷反射面大小
B.缺陷性質(zhì)
C.缺陷取向
D.以上全部
A. K 值是不穩(wěn)定的數(shù)據(jù)
B. K 值隨電壓的變化而變化
C. K 值常因磨損而發(fā)生變化
D.以上都對
A.探頭磨損會使入射點(diǎn)發(fā)生變化
B. 探頭磨損可能導(dǎo)致探頭K值的增大或減小
C. 探頭磨損可能導(dǎo)致儀器的水平線性的變化
D. 探頭磨損可能導(dǎo)致掃描速度的變化
A.儀器和探頭
B.操作人員的影響
C.工件的影響
D.耦合劑的影響
最新試題
用2.5P14Z探頭檢檢測厚度T＝150mm鋼板（CL= 5900m/s），如何用鋼板完好部位底波校準(zhǔn)檢測靈敏度？
用斜探頭檢測板厚T = 20mm ，上、下焊縫寬度為30mm的對接接頭，探頭前沿長度為 20mm ，為保證聲束能掃查到整個(gè)焊接接頭截面，試確定用一、二次波檢測時(shí)探頭的K值？
用2.5P14Z直探頭檢測外徑1100mm，壁厚200mm筒形鋼鍛件 CL= 5900m/s 。 在內(nèi)壁作徑向檢測時(shí)， 如何用外壁曲面回波調(diào)節(jié)Ф=2mm檢測靈敏度？
用K2探頭探測T＝36mm鋼板對接焊接接頭，儀器按深度l：1調(diào)節(jié)，在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Φ1×6面板曲線，這時(shí)衰減器讀數(shù)為32dB，試塊與工件耦合差為5dB， （1）試問焊縫兩側(cè)的修磨寬度各為多少？（2）如何設(shè)定Φ1×6－9dB評定線靈敏度？
用K2.5斜探頭檢測T = 12mm 的鋼板對接接頭 ，儀器按水平1：1調(diào)節(jié)，在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線，這時(shí)衰減器讀數(shù)為38dB ， 試塊與工件耦合差為6dB 。
用2.5P20Z探頭檢測厚400mm的鋼鍛件，鋼中CL=5900m/s ， 衰減系數(shù)α2= 0.01dB/mm ， （1）如用試塊（衰減可忽略）上的深200mm ，Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處檢測靈敏度（400/Ф2），兩者的波高差為多少？ （2）如果用厚度為200mm的試塊（鍛件與試塊衰減系數(shù)相同，耦合差為5dB）底波調(diào)節(jié)檢測靈敏度（400/Ф2），兩者反射波高差為多少？
檢測板厚T = 24mm 的鋼板對接焊接接頭，上焊縫寬34mm ， 下焊縫寬26mm ，選用K2 探頭，前沿距離l0 = 16mm ，用一、二次波能掃查到整個(gè)焊縫截面？
模擬式超聲波探傷儀用K1.0斜探頭，對準(zhǔn)CSK-ⅠA試塊R50和R100圓弧，顯示屏上R50和R100圓弧回波分別對準(zhǔn)刻度35.4和70.8 。求按橫波深度調(diào)節(jié)其掃描速度為多少？
用2.5P20Z直探頭檢測厚500mm的工件，CL=5900m/s ， 檢測中在200mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷， 其波高比底波低12dB ， 求此缺陷的當(dāng)量大??？
用2.5P20Z直探頭檢驗(yàn)厚度380mm的鋼鍛件（CL＝5900 m/s），材質(zhì)衰減系數(shù)α＝0.01 dB/mm。檢測中在130mm深發(fā)現(xiàn)一缺陷，其波幅較底波低7dB，求此缺陷當(dāng)量大??？