A. GS-1
B. GS-2
C. GS-3
D. GS-4
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A.探頭前沿短
B. 折射角大
C. 晶片面積小、
D. 以上同時(shí)考慮
A. CSK-ⅠA
B. T3型
C. CSK-ⅡA
D. T1型
A. CS1 型
B. CS2型
C. T2型
D. T1型
A. 直探頭、縱波斜探頭、橫波斜探頭
B. 雙晶探頭、縱波斜探頭、橫波斜探頭
C. 雙晶探頭、直探頭、縱波斜探頭、縱波雙晶斜探頭
D. 雙晶探頭、直探頭、橫波斜探頭
A. 直探頭在翼板外側(cè)上掃查檢測(cè)
B. 斜探頭在翼板外側(cè)掃查檢測(cè)
C. 直探頭在腹板上掃查檢測(cè)
D. 斜探頭在腹板上掃查檢測(cè)
最新試題
檢測(cè)板厚T=20mm的鋼板對(duì)接焊接接頭,上焊縫寬34mm,下焊縫寬25mm,選用K2探頭,前沿距離L0=16mm,用一、二次波法能否掃查到整個(gè)焊縫截面?是否能滿足要求?
用K2探頭探測(cè)T=36mm鋼板對(duì)接焊接接頭,儀器按深度l:1調(diào)節(jié),在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Φ1×6面板曲線,這時(shí)衰減器讀數(shù)為32dB,試塊與工件耦合差為5dB, (1)試問(wèn)焊縫兩側(cè)的修磨寬度各為多少?(2)如何設(shè)定Φ1×6-9dB評(píng)定線靈敏度?
面積為1×1m2的鋼板超聲檢測(cè),發(fā)現(xiàn)有以下缺陷:指示長(zhǎng)度為90mm面積80cm2的缺陷4個(gè), 指示長(zhǎng)度為75mm,面積50cm2的缺陷3個(gè);指示長(zhǎng)度為50mm 面積12cm2的缺陷5個(gè);各缺陷間距均大于100mm,試根JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)判別鋼板等級(jí)。
用2.5P20Z直探頭檢測(cè)厚500mm的工件,CL=5900m/s , 檢測(cè)中在200mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷, 其波高比底波低12dB , 求此缺陷的當(dāng)量大???
用斜探頭檢測(cè)板厚T = 20mm ,上、下焊縫寬度為30mm的對(duì)接接頭,探頭前沿長(zhǎng)度為 20mm ,為保證聲束能掃查到整個(gè)焊接接頭截面,試確定用一、二次波檢測(cè)時(shí)探頭的K值?
用2.5P20Z直探頭檢驗(yàn)厚度380mm的鋼鍛件(CL=5900 m/s),材質(zhì)衰減系數(shù)α=0.01 dB/mm。檢測(cè)中在130mm深發(fā)現(xiàn)一缺陷,其波幅較底波低7dB,求此缺陷當(dāng)量大?。?#8194;
模擬式超聲波探傷儀用K1.0斜探頭,對(duì)準(zhǔn)CSK-ⅠA試塊R50和R100圓弧,顯示屏上R50和R100圓弧回波分別對(duì)準(zhǔn)刻度35.4和70.8 。求按橫波深度調(diào)節(jié)其掃描速度為多少?
用K2斜探頭檢測(cè)T = 28mm 的鋼板對(duì)接接頭 ,儀器按深度1:1調(diào)節(jié),在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線,這時(shí)衰減器讀數(shù)為34dB , 試塊與工件耦合差為5dB ,(1) 如何調(diào)節(jié)評(píng)定線Ф1×6-9dB靈敏度?(2) 檢測(cè)中在 =50處發(fā)現(xiàn)一缺陷波,其波高達(dá)面板曲線時(shí), 衰減器讀數(shù)為28dB,求該缺陷的當(dāng)量和所在區(qū)域?(按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn))
用5P10×12K2探頭檢測(cè)板厚T = 24mm 鋼板對(duì)接焊縫,掃描線按深度2:1調(diào)節(jié),檢測(cè) 時(shí)在水平刻度τf= 60處發(fā)現(xiàn)一缺陷波,計(jì)算此缺陷深度和水平距離?
用5P10×12K2.5探頭,檢測(cè)板厚T = 20 mm 的鋼對(duì)接焊接接頭,掃描時(shí)基線按水平1:1調(diào)節(jié),檢測(cè)時(shí),水平刻度40和70mm處各發(fā)現(xiàn)缺陷波一個(gè),試分別求這兩個(gè)缺陷的深度?