A.底面與探傷面不平行
B.工件內(nèi)部有傾斜的大缺陷
C.工件內(nèi)部有材質(zhì)衰減大的部位
D.以上都有可能
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A.調(diào)整探頭角度
B.調(diào)整水距
C.調(diào)整聲束中心線與管軸距離
D.以上都可以
A.耦合條件差
B.聲波穿透性差
C.底面反射差
D.表面分辨力差
A.發(fā)散
B.聚焦
C.折射
D.透射
A、縱波圓周掃查
B、橫波圓周掃查
C、縱波軸向掃查
D、橫波軸向掃查
A.距離—dB曲線法
B.面板曲線法
C.對(duì)比試塊法
D.以上都是
最新試題
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。