A.缺陷回波高度與底面回波高度比較
B.缺陷回波高度與參考反射體回波高度比較
C.以缺陷回波高度與基準(zhǔn)波高的分貝差計算當(dāng)量
D.缺陷指示長度測定
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你可能感興趣的試題
A.液力管件
B.傳動軸
C.發(fā)動機(jī)盤件
D.蒙皮用鋁板
A.提高增益（增加靈敏度）并從另一面掃查，以提高信噪比
B.提高頻率并采用大直徑探頭，以減小聲束擴(kuò)散角來降低部分雜波
C.在深度方向上分區(qū)域調(diào)整靈敏度和評定，以避開近距離雜波的干擾
D.改用透射法雙探頭掃查，以減少聲能損失
A.IN718
B.Ti-6Al-4V
C.4340
D.2024
A.接近于前表面
B.在底面附近
C.在板的中部
D.以上都有可能
A.單晶片直射縱波
B.雙晶片斜射縱波
C.斜入射橫波
D.雙探頭透射法
最新試題
利用底波計算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時，適用的工件厚度為（）。
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
調(diào)節(jié)時基線時，應(yīng)使（）同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。
利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進(jìn)行（）。
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。