A.A顯示
B.B顯示
C.C顯示
D.三維顯示
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A.檢測(cè)效率高
B.幾乎適用于所有材料
C.缺陷顯示直觀
D.容易判斷缺陷的性質(zhì)
A.水平線性
B.垂直線性
C.動(dòng)態(tài)范圍
D.B和C
A.只仰制雜波而對(duì)缺陷波無(wú)影響
B.限制檢波后的信號(hào)輸出幅度，同時(shí)仰制雜波和缺陷波
C.可以改善儀器的垂直線性
D.可以提高儀器的動(dòng)態(tài)范圍
A.垂直線性
B.水平線性
C.脈沖重復(fù)頻率
D.延遲
A.＞5%
B.≤5%
C.20分貝
D.6分貝
最新試題
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
單探頭法容易檢出（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。