焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是（）。

檢測申請時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求，檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)，確保焊接、檢驗(yàn)、檢測等全過程具有可追溯性。

底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管，影響其阻抗變化的因素有（）

X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查，并出具X光底片復(fù)查報(bào)告，復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。

下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中，錯(cuò)誤的是（）。

底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測報(bào)告副本、檢測報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。

X射線檢測人員健康體檢為每（）年一次。

點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。

提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家（）