A.繼電器輸出
B.晶體管輸出
C.晶閘管輸出
D.半導(dǎo)體輸出
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你可能感興趣的試題
A.PLC主要由硬件系統(tǒng)與軟件系統(tǒng)組成
B.PLC采用循環(huán)掃描工作方式
C.當(dāng)PLC處于停狀態(tài)時(shí)，不進(jìn)行內(nèi)部處理和通信服務(wù)等內(nèi)容
D.梯形圖程序按先左后右，先上后下的步序，逐句掃描和執(zhí)行
A.輸入掃描
B.指令編譯
C.程序執(zhí)行
D.輸出刷新
A.系統(tǒng)ROM
B.系統(tǒng)RAM
C.用戶ROM
D.用戶RAM
A.中央處理器（CPU）
B.存儲(chǔ)器
C.輸入輸出接口
D.顯示器
A.系統(tǒng)程序存儲(chǔ)區(qū)
B.過程數(shù)據(jù)存儲(chǔ)區(qū)
C.用戶程序存儲(chǔ)區(qū)
D.系統(tǒng)RAM存儲(chǔ)區(qū)（包括I／O映像區(qū)和系統(tǒng)軟設(shè)備等）
最新試題
現(xiàn)場(chǎng)儀表施工方案的編寫，是在（）之后進(jìn)行的。
（）不是儀表檢修施工方案的重點(diǎn)。
以下關(guān)于控制閥的試驗(yàn)及投用方案內(nèi)容，描述錯(cuò)誤的是（）。
大型電氣設(shè)備引起的干擾一般包括（）。
下列不屬于編寫儀表檢修作業(yè)風(fēng)險(xiǎn)分析要求的是哪一項(xiàng)（）。
下列描述中不屬于控制系統(tǒng)功能測(cè)試的主要依據(jù)的是（）。
在儀表調(diào)試中，（）是對(duì)儀表性能、儀表管道和儀表線路連接正確性的全面試驗(yàn)，目的在于對(duì)儀表和控制系統(tǒng)的設(shè)計(jì)質(zhì)量、設(shè)備材料質(zhì)量和安裝質(zhì)量進(jìn)行全面的檢查，確認(rèn)儀表工程質(zhì)量符合生產(chǎn)運(yùn)行使用要求。
儀表工程項(xiàng)目交接驗(yàn)收的前提條件錯(cuò)誤的是（）。
下列描述中，屬于一個(gè)完整的儀表故障處理應(yīng)急預(yù)案的是（）。
以下關(guān)于傳導(dǎo)干擾說法錯(cuò)誤的是（）。