單項選擇題超聲波探頭的頻率與壓電晶片厚度有關，晶片越薄則（）
A.頻率越低
B.頻率越高
C.頻率不變
D.以上都不對
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1.單項選擇題目前工業(yè)常用的超聲波測厚儀利用的是（）
A.連續(xù)波穿透法
B.脈沖波反射法
C.連續(xù)波共振法
D.剪切波諧振法
2.單項選擇題評價超聲波探傷儀在規(guī)定靈敏度下發(fā)現并顯示最小缺陷能力的指標是（）
A.分辨率
B.時基線性
C.垂直線性
D.動態(tài)范圍
3.單項選擇題超聲波檢測儀的分辨率主要與（）有關。
A.掃描電路
B.頻帶寬度
C.動態(tài)范圍
D.放大倍數
4.單項選擇題可用來表示超聲波檢測儀與探頭組合性能的指標是（）
A.水平線性、垂直線性、動態(tài)范圍
B.頻帶寬度、探測寬度、重復頻率
C.靈敏度余量、盲區(qū)、分辨率
D.入射點、進場長度、擴散角
5.單項選擇題在下述測試項目中，與評價超聲波檢測儀主要性能有關的是（）
A.分辨率
B.指向性和近場長度
C.折射角和入射角
D.指示長度
最新試題
實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做（）。
題型：單項選擇題
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
題型：單項選擇題
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
題型：單項選擇題
利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
題型：單項選擇題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：單項選擇題
板波檢測可以發(fā)現（），其檢出靈敏度與儀器設備及波的形式有關。
題型：單項選擇題
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。
題型：單項選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項選擇題
測長法是根據測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
題型：單項選擇題
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型：單項選擇題