A.能夠清晰分辨孔壁信號(hào)和起始于孔壁的小裂紋信號(hào)
B.能夠獲得準(zhǔn)確的裂紋位置和尺寸
C.能夠很容易在試塊上找出裂紋信號(hào)
D.以上都是
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A.盡可能提高儀器增益；
B.利用被檢件的底面回波
C.利用被檢件的側(cè)壁回波；
D.利用被檢件的孔壁回波。
A.掃查區(qū)域有過(guò)多的耦合劑；
B.斜楔磨損；
C.探頭掃查位置或方向偏移；
D.以上都有可能。
A.避免漏掉任何顯示信號(hào)；
B.避免漏掉報(bào)警閘門(mén)范圍內(nèi)的任何顯示信號(hào)；
C.避免漏掉觸發(fā)報(bào)警的任何顯示信號(hào)；
D.更合理的確定靈敏度水平。
A.能分辨直徑為5/64inch，埋深為1inch的平底孔顯示信號(hào)
B.能分辨直徑為5/64inch，埋深為3/4inch的平底孔顯示信號(hào)
C.能分辨直徑為5/64inch，埋深為1/2inch的平底孔顯示信號(hào)
D.能分辨直徑為5/64inch，埋深為1/4inch的平底孔顯示信號(hào)
A.裂紋
B.孔洞
C.夾雜
D.腐蝕
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
儀器水平線性影響（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。