A.在60%基線處出現(xiàn)25%波幅的顯示、且隨探頭移動(dòng)而移動(dòng)；
B.在60%基線處出現(xiàn)80%波幅的顯示、且不隨探頭移動(dòng)而移動(dòng)；
C.在50%基線處出現(xiàn)80%波幅的顯示、且隨探頭移動(dòng)而移動(dòng)；
D.以上顯示都不應(yīng)判為裂紋顯示。
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A.信號(hào)顯示位置將伴隨探頭沿圓周移動(dòng)而移動(dòng)
B.信號(hào)顯示位置不會(huì)伴隨探頭沿圓周移動(dòng)而移動(dòng)
C.當(dāng)探頭沿圓周移動(dòng)時(shí)，信號(hào)幅度會(huì)變化而位置不會(huì)變化
D.當(dāng)探頭沿圓周移動(dòng)時(shí)，信號(hào)位置和幅度都將發(fā)生變化
A.盡量從兩個(gè)方向進(jìn)行掃查，以保證聲束覆蓋整個(gè)孔內(nèi)壁；
B.探頭在凸耳外圓與桿身過(guò)度區(qū)掃查時(shí)，可能會(huì)出現(xiàn)孔波的情況；
C.探頭應(yīng)轉(zhuǎn)動(dòng)或傾斜掃查，以便發(fā)現(xiàn)位于側(cè)壁的小缺陷；
D.以上都是。
A.利用受檢件底面回波；
B.利用受檢件側(cè)壁回波；
C.利用受檢件孔壁回波；
D.盡可能將儀器增益調(diào)至最大。
A.能夠看清參考試塊人工缺陷信號(hào)和觸發(fā)報(bào)警
B.能夠看清底波信號(hào)并保持信號(hào)穩(wěn)定
C.能夠清晰分辨出裂紋信號(hào)和由結(jié)構(gòu)引起的非裂紋等干擾信號(hào)
D.能夠很容易在參考試塊上找出人工缺陷信號(hào)
A.容易接近的區(qū)域
B.任何區(qū)域
C.不容易接近的區(qū)域
D.以上都是
最新試題
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱(chēng)為（）。
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。