A.0.01mm
B.0.05mm
C.0.1mm
D.0.12mm
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A.7d
B.14d
C.28d
D.56d
A.半年
B.一年
C.一年半
D.二年
A.銅物質(zhì)
B.鐵磁性物質(zhì)
C.有機(jī)物質(zhì)
D.鋁物質(zhì)
A.60
B.50
C.40
D.30
A.0.1mm
B.0.2mm
C.0.5mm
D.1mm
最新試題
檢測申請時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗(yàn)蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗(yàn)、檢測等全過程具有可追溯性。
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求,經(jīng)表面檢驗(yàn)合格,申請單無需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。
為了提高射線照相對比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()
觀察底片時(shí),為能識(shí)別缺陷圖像,缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。
X射線檢測圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確,因此焊接缺陷無論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。