A.波形轉(zhuǎn)換
B.壓電效應(yīng)
C.折射
D.阻抗匹配
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A.頻帶越寬，脈沖越寬，則分辨力高，靈敏度低
B.頻帶越寬，脈沖越寬，則分辨力低，靈敏度高
C.頻帶越寬，脈沖越窄，則分辨力低，靈敏度高
D.頻帶越寬，脈沖越窄，則分辨力高，靈敏度低
A.減小盲區(qū)
B.使聲能集中在某一區(qū)域
C.提高信噪比
D.以上都是
A.提高近表面缺陷的探測(cè)能力
B.精確測(cè)量缺陷的尺寸
C.擴(kuò)大掃查面積
D.增加探測(cè)深度
A.提高局部區(qū)域的檢測(cè)靈敏度
B.提高信噪比
C.提高局部區(qū)域的橫向分辨力
D.以上都是
A.提高檢測(cè)靈敏度
B.提高信噪比
C.提高近表面檢測(cè)能力
D.以上都是
最新試題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為（）。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。