單項選擇題單晶片直探頭接觸法探傷中，與探測面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出（）
A.近場干擾
B.材質(zhì)衰減影響
C.存在盲區(qū)
D.聲耦合效率低
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1.單項選擇題與透射法相比，以下選項哪種是反射法的優(yōu)點（）
A.靈敏度高
B.盲區(qū)小
C.適用于衰減較大的材料
D.以上都是
2.單項選擇題與透射法相比，以下哪種是反射法的優(yōu)點（）
A.盲區(qū)小
B.可對缺陷精確定位
C.適用于薄板件
D.以上都是
3.單項選擇題與透射法相比，以下哪些選項是反射法的缺點（）
A.不利于檢測衰減較大的材料
B.不利于缺陷的精確定位
C.不利于小缺陷的檢測
D.以上都是
4.單項選擇題與反射法相比，以下四個選項哪種是透射法的優(yōu)點（）
A.可對缺陷精確定位
B.檢測靈敏度高
C.適用于薄板件
D.以上都是
5.單項選擇題與反射法相比，以下哪種是透射法的優(yōu)點（）
A.可對缺陷精確定位
B.盲區(qū)小
C.操作方便
D.以上都是
最新試題
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。
題型：單項選擇題
利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。
題型：單項選擇題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
題型：單項選擇題
當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
題型：單項選擇題
實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當提高后的靈敏度叫做（）。
題型：單項選擇題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進行（）。
題型：單項選擇題
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。
題型：單項選擇題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。
題型：單項選擇題
（）是影響缺陷定量的因素。
題型：單項選擇題
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標準來確定。
題型：單項選擇題