判斷題磁粉探傷方法只能探測(cè)開(kāi)口于試件表面的缺陷,而不能探測(cè)近表面缺陷
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一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()
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