單項(xiàng)選擇題蘭姆波可用于檢驗(yàn)（）
A.鍛件
B.棒坯
C.鑄錠
D.薄板
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1.單項(xiàng)選擇題聲速主要取決于（）
A.密度
B.彈性
C.a和b都是
D.聲阻抗
2.單項(xiàng)選擇題常用于探傷的壓電晶體，其基頻主要取決于（）
A.施加電壓脈沖的長度
B.儀器的脈沖放大器的放大特性
C.壓電晶體的厚度
D.上述三種都不對
3.單項(xiàng)選擇題波束指向角是晶片的尺寸和它所通過的介質(zhì)中聲波波長的函數(shù)，并且（）
A.頻率或晶片直徑減小時增大
B.頻率或晶片直徑減小時減小
C.頻率增加而晶片直徑減小時增大
D.等于速度和頻率的乘積
4.單項(xiàng)選擇題用水浸法檢驗(yàn)零件時；通常用于產(chǎn)生橫波的方法是（）
A.用縱波垂直于界面發(fā)射到零件中去
B.用兩種不同振動頻率的晶片
C.用Y切割石英晶體
D.適當(dāng)?shù)膬A斜探頭
5.單項(xiàng)選擇題用聲速和頻率描述波長的方程為（）
A.波長=聲速×頻率
B.波長=2（頻率×速度）
C.波長=速度÷頻帶
D.波長=頻率÷速度
最新試題
實(shí)際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
題型：單項(xiàng)選擇題
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
題型：單項(xiàng)選擇題
單探頭法容易檢出（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項(xiàng)選擇題
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
題型：單項(xiàng)選擇題
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
題型：單項(xiàng)選擇題