A.近表面分辨率
B.遠(yuǎn)場(chǎng)分辨率
C.底面分辨率
D.橫向分辨率
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A.近表面分辨率
B.遠(yuǎn)場(chǎng)分辨率
C.底面分辨率
D.橫向分辨率
A.19mm
B.25mm
C.30mm
D.40mm
A.Φ5mm,2.5MHz
B.Φ6mm,5MHz
C.Φ5mm,5MHz
D.Φ8mm,2.5MHz
A.減少
B.保持不變
C.增大
D.隨波長(zhǎng)均勻變化
A.近場(chǎng)區(qū)
B.遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)
C.超聲場(chǎng)
最新試題
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
超聲波儀時(shí)基線(xiàn)的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
()是影響缺陷定量的因素。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線(xiàn)所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線(xiàn)長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為()。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。