A.Ⅰ級(jí)
B.Ⅱ級(jí)
C.Ⅲ級(jí)
D.Ⅳ級(jí)
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A.<5mm
B.<8mm
C.<10mm
D.<15mm
A.不低于評(píng)定線靈敏度
B.不低于基準(zhǔn)線靈敏度
C.不低于定量線靈敏度
D.不低于判廢線靈敏度
A.DAC、DAC-10db、DAC-16db
B.DAC-4db、DAC-10db、DAC-16db
C.DAC-2db、DAC-8db、DAC-14db
D.以上都不是
A.70°或60°
B.45°
C.K1.5、K2、K2.5
D.以上A或C
A.1MHz
B.2MHz
C.2.5MHz
D.2~2.5 MHz
最新試題
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
探頭延檢測面水平移動(dòng),超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
檢測靈敏度太高和太低對(duì)檢測都不利。靈敏度太低,()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。