（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。

（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。

測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。

（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。

超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度，即（）。

儀器水平線性影響（）。

縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。

調(diào)節(jié)時基線時，應使（）同時對準相應的聲程位置。