單項選擇題
A、檢出平行于超聲波束的缺陷 B、檢出位于鍛件中心部位的小缺陷 C、檢出表面缺陷 D、檢出近表面的缺陷
A、距離—振幅高度 B、吸收電平 C、垂直極限 D、分辨率極限
A、BX電纜 B、導線管 C、同軸電纜 D、超聲傳導電纜
A、1MHz探頭 B、5MHz探頭 C、15MHz探頭 D、25MHz探頭
A、有利于發(fā)現(xiàn)缺陷 B、不利于對缺陷定位 C、可提高探傷靈敏度 D、有利于對缺陷定位
A、晶片的厚度 B、晶片材料的聲速 C、晶片材料的聲阻抗 D、晶片材料的密度
A、在水中會溶解 B、發(fā)射聲波效率低 C、機械和電氣性能不穩(wěn)定 D、易老化
A、背襯材料 B、波形轉換器 C、壓電晶片或換能器 D、保護膜
A、聯(lián)合雙探頭 B、分割式探頭 C、組合收發(fā)式探頭 D、陣列式探頭
A、雙晶片垂直法探傷 B、斜射法探傷 C、縱波垂直法探傷 D、反射法探傷
A、將電能轉換成機械能 B、將機械能轉換成電能 C、電能與機械能相互轉換 D、將電能轉換成聲能