A．磁力線永不相交；
B．磁鐵磁極上磁力線密度最大；
C．磁力線沿阻力最小的路線通過(guò)；
D．以上都對(duì)
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A、磁力線彼此不相交
B、磁極處磁力線最稠密
C、具有最短路徑，是封閉的環(huán)
D、以上三點(diǎn)都是
A、可分開(kāi)
B、不可分開(kāi)
C、以上都不是
A、磁滯回線
B、磁化曲線
C、起始磁化曲線
A、B=ΦB/S
B、B=S/ΦB
C、B=S*ΦB
A．飽和點(diǎn)；
B．居里點(diǎn)；
C．熔點(diǎn)；
D．轉(zhuǎn)向點(diǎn)
最新試題
在不退磁的情況下，周向磁化產(chǎn)生的剩磁比縱向磁化產(chǎn)生的剩磁有更大的危害性。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的水?dāng)嘣囼?yàn)，主要是用來(lái)檢驗(yàn)水磁懸液對(duì)被檢表面的潤(rùn)濕性能，只有出現(xiàn)裸露的“水?dāng)唷北砻?，才可以開(kāi)始磁粉檢測(cè)。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：磁粉檢測(cè)時(shí)一般應(yīng)選用A1-60/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。
濕法用磁粉粒度一般比干法小。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：檢測(cè)后加熱至600℃以上進(jìn)行熱處理的工件，一般可不進(jìn)行退磁。
組合裝配件應(yīng)分解后再進(jìn)行磁粉檢測(cè)。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：剩磁應(yīng)不大于0.3mT（240A/m）。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同，只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
磁懸液應(yīng)采用軟管沖淋或浸漬法施加于工件表面。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時(shí)，按一條磁痕處理，其長(zhǎng)度為兩條磁痕之和加間距。