A.溶劑去除型熒光滲透法
B.溶劑去除型著色滲透法
C.后乳化型熒光滲透法
D.后乳化型著色滲透法
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A.只需見到缺陷顯示,不一定非要在施加顯像劑10-15分鐘后進(jìn)行跡痕解釋和評(píng)定
B.為保證著色探傷中檢查細(xì)微缺陷的需要,被檢零件的照度應(yīng)不超過200Lx
C.熒光探傷時(shí)暗室中的白光強(qiáng)度應(yīng)不超過5Lx
D.以上說法都不對(duì)
A.酸洗
B.打磨
C.噴砂
D.蒸氣除油
A.200nm
B.365nm
C.400nm
D.沒有要求
A.滲透檢測(cè)方法比渦流檢測(cè)方法靈活性小
B.對(duì)于鐵磁性材料的表面缺陷,滲透檢測(cè)方法不如磁粉檢測(cè)方法可靠
C.滲透檢測(cè)方法不能發(fā)現(xiàn)疲勞裂紋
D.對(duì)于微小的表面缺陷,滲透檢測(cè)方法比射線照相檢測(cè)方法可靠
A.酸洗
B.打磨
C.噴砂
D.蒸汽去除
最新試題
()是影響缺陷定量的因素。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。