A.目視法
B.射線法
C.磁粉法
D.渦流法
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A.可在光線較暗的環(huán)境下觀察缺陷
B.被探測(cè)零件表面不會(huì)被腐蝕
C.對(duì)零件和環(huán)境的污染小
D.較易檢出微小的缺陷
A.沖洗不夠
B.后乳化法時(shí)乳化時(shí)間不足
C.多孔性材料和涂層
D.以上都可能
A.預(yù)清洗
B.乳化
C.對(duì)顯示跡痕的判斷與解釋
D.滲透劑的清除
A.對(duì)于微細(xì)裂紋的顯示，厚的顯示劑涂層比薄的涂層更為清晰
B.黑色顯示劑的反差比白色顯示劑好
C.應(yīng)使用壓縮空氣清除多余的顯示劑
D.對(duì)于微細(xì)裂紋的顯示，薄的顯示劑涂層比的厚涂層更為清晰
A.測(cè)定滲透劑的粘度
B.測(cè)量滲透劑的潤(rùn)濕能力
C.在具有人工裂紋的A型鋁合金試塊或B型鍍鉻試塊上通過(guò)對(duì)比試驗(yàn)確定
D.上述方法都需要
最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。