A.波長(zhǎng)的一半
B.一個(gè)波長(zhǎng)
C.四分之一波長(zhǎng)
D.若干個(gè)波長(zhǎng)
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A.聲阻抗小且粘度大的耦合劑
B.聲阻抗小且粘度小的耦合劑
C.聲阻抗大且粘度大的耦合劑
D.以上都不是
A.被檢工件厚度太大
B.工件底面與探測(cè)面不平行
C.耦合劑有較大聲能損耗
D.工件與試塊材質(zhì)，表面光潔度有差異
A.只有當(dāng)聲束投射到整個(gè)缺陷發(fā)射面上才能得到反射回波最大值
B.只有當(dāng)聲束沿中心軸線投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值
C.只有當(dāng)聲束垂直投射到工件內(nèi)缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值
D.人為地將缺陷信號(hào)的最高回波規(guī)定為測(cè)定基準(zhǔn)
A.聲束擴(kuò)散損失
B.耦合損耗
C.工件幾何形狀影響
D.以上都是
A.平底孔
B.平行于探測(cè)面且垂直于聲束的平底槽
C.平行于探測(cè)面且垂直于聲束的橫通孔
D.平行于探測(cè)面且垂直于聲束的V型缺口
最新試題
儀器水平線性影響（）。
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。