A.將接觸法檢驗(yàn)改為液浸法檢驗(yàn)
B.將縱波檢驗(yàn)改為橫波檢驗(yàn)
C.用直徑較小的探頭進(jìn)行檢驗(yàn)
D.用直徑較大的探頭進(jìn)行檢驗(yàn)
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A.φ0.8mm
B.φ1.0mm
C.φ2.0mm
D.φ4.0mm
A.φ0.8mm
B.φ1.0mm
C.φ2.0mm
D.φ4.0mm
A.小于實(shí)際缺陷面積
B.等于實(shí)際缺陷面積
C.大于實(shí)際缺陷面積
D.以上說(shuō)法均不正確
A.由于實(shí)際缺陷的形狀、性質(zhì)等原因,很難確定缺陷的真實(shí)尺寸
B.當(dāng)量法適用于評(píng)定小于聲束截面尺寸的缺陷
C.缺陷回波高度法適用于評(píng)定小于聲束截面尺寸的缺陷
D.以上都正確
A.當(dāng)量法確定的缺陷尺寸能夠代表實(shí)際的缺陷尺寸
B.缺陷指示長(zhǎng)度測(cè)定法適用于面積大于聲束截面的缺陷
C.底面回波高度法適用于面積大于聲束截面的缺陷
D.以上都正確
最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
()是影響缺陷定量的因素。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱(chēng)為缺陷的()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。