A.距離幅度特征、頻率響應(yīng)、相對靈敏度
B.放大線性、分辨力、信噪比
C.垂直線性、水平線性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
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A.距離幅度特征、頻率響應(yīng)、相對靈敏度
B.放大線性、分辨力、信噪比
C.垂直線性、水平線性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
A.距離幅度特征、頻率響應(yīng)、相對靈敏度
B.放大線性、分辨力、信噪比
C.垂直線性、水平線性、噪聲電平
D.分辨力、信噪比、靈敏度余量或靈敏度
A.相對靈敏度、時間域響應(yīng)、噪聲電平
B.聲軸偏斜角、聲束擴(kuò)展特征、距離幅度特征
C.頻率響應(yīng)、分辨力、入射點(diǎn)或折射角
D.以上都是
A.缺陷取向
B.缺陷波幅和傳播時間
C.缺陷的指示長度
D.以上都是
A.增加發(fā)射強(qiáng)度
B.使回波的電信號放大倍數(shù)增加
C.提高晶片振動次數(shù)
D.使發(fā)射的聲束尖銳
最新試題
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
調(diào)節(jié)時基線時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
單探頭法容易檢出()。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。