A.手持探頭的姿勢隨探頭移動而保持不變;
B.探頭移動時,注意熒光屏上底波是否變化;
C.探頭移動時,注意熒光屏上固定回波或基線上噪聲信號波動狀態(tài);
D.盡量多涂耦合劑。
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A.滿刻度
B.不小于滿刻度的85%
C.不大于滿刻度的10%
D.不小于水平極限的85%
A.防止耦合劑進入孔內(nèi)不易清除而導(dǎo)致螺栓腐蝕;
B.防止耦合劑進入孔內(nèi)而產(chǎn)生偽缺陷顯示信號;
C.改善耦合效果,有利于聲傳播;
D.以上都是。
A.根據(jù)回波位置;
B.根據(jù)回波幅度;
C.根據(jù)回波相位;
D.根據(jù)缺陷回波。
A.與相鄰或?qū)?yīng)位置上件號相同的螺栓對比
B.與參考試塊進行對比
C.應(yīng)立即拆除做表面探傷檢查確認(rèn)
D.按裂紋顯示作報廢處理
A.對所有適用超聲方法的結(jié)構(gòu)進行檢查
B.對零件進行抽樣檢查
C.對重要零件關(guān)鍵部位進行檢查
D.對同類型飛機已發(fā)現(xiàn)缺陷的零件或部位進行檢查
最新試題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。
儀器水平線性影響()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
()是影響缺陷定量的因素。
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度,即()。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。