A.使電磁場(chǎng)成形；
B.提高靈敏度；
C.提高分辯力；
D.以上都是；
E.以上都不是。
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A.頻率、線圈電感、線圈電阻；
B.僅取決于線圈電感；
C.僅取決于線圈電阻和電感；
D.僅取決于頻率和線圈電阻；
E.僅取決于頻率和線圈電感.
A.將試驗(yàn)頻率變?yōu)榭墒乖肼暅p小的頻率；
B.增大試驗(yàn)儀器的放大倍數(shù)；
C.改善填充系數(shù)；
D.儀器中加濾波電路
A.試樣的電導(dǎo)率；
B.發(fā)射信號(hào)的大?。?br />
C.試樣的厚度；
D.試樣中存在缺陷.
A.使用一個(gè)差動(dòng)式二次線圈；
B.在感應(yīng)的信號(hào)中加一個(gè)相位差180°的信號(hào)；
C.從感應(yīng)信號(hào)中減去一個(gè)同相信號(hào)；
D.以上任意一種.
A.使容抗等于發(fā)生器阻抗；
B.使容抗最?。?br />
C.使容抗等于感抗；
D.使容抗最大.
最新試題
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同，相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù)．但不少于透照次數(shù)的三分之一。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量，因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求，經(jīng)表面檢驗(yàn)合格，申請(qǐng)單無(wú)需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。
為了提高射線照相對(duì)比度，可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家（）
對(duì)于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫，采用的透照方式為（）。
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工（如校形、修刮、重熔等），否則應(yīng)重新申請(qǐng)進(jìn)行X射線檢測(cè)。
點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測(cè)方法是X射線檢測(cè)。
對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品，工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定，檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn)，檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn)，否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。
對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照，只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí)，就可采用多膠片技術(shù)。