單項(xiàng)選擇題對檢測探頭來講,干擾信號是相對的,例如()。

A.對探傷來講,材質(zhì)變化、尺寸變化是干擾源
B.對材質(zhì)分選講,缺陷情況、尺寸變化是干擾源
C.對尺寸測量講,缺陷情況、材質(zhì)變化是干擾源
D.以上三句全對


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2.單項(xiàng)選擇題常用的自比差動式穿過式線圈屬于()。

A.軸向激勵(lì)軸向測量
B.軸向激勵(lì)法向測量
C.法向激勵(lì)軸向測量
D.法向激勵(lì)法向測量

3.單項(xiàng)選擇題對方形截面的導(dǎo)電試件,選用渦流探傷時(shí)可采用()。

A.穿過式探頭
B.旋轉(zhuǎn)式探頭
C.混合式探頭
D.以上三者都可以

4.單項(xiàng)選擇題測量繞組主要用來檢測試件中變化的()。

A.激勵(lì)磁場
B.渦流磁場
C.磁疇磁場
D.以上三者都是

5.單項(xiàng)選擇題激勵(lì)繞組的功能是()。

A.發(fā)現(xiàn)試件中渦流變化
B.在試件中激勵(lì)出渦流
C.發(fā)現(xiàn)試件中的分子磁矩
D.激勵(lì)出試件磁疇

最新試題

射線檢測最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。

題型:單項(xiàng)選擇題

增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。

題型:判斷題

像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()

題型:單項(xiàng)選擇題

底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測報(bào)告副本、檢測報(bào)告等及臺帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。

題型:判斷題

觀察底片時(shí),為能識別缺陷圖像,缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識別閾值。

題型:判斷題

點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。

題型:判斷題

X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。

題型:判斷題

缺陷分類應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。

題型:判斷題

焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。

題型:單項(xiàng)選擇題