物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變（）

通常所謂20KV的X射線是指（）

在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）

下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述，不正確的一項(xiàng)是（）

光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化（）

一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）

影響較大的散射線通常來自（）

某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。