A.雙晶探頭
B.延遲塊探頭
C.聚焦探頭
D.以上都可以
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.對于信噪比要求高的情況,選擇窄頻帶儀器
B.對于分辨力要求高的情況,選擇窄頻帶儀器
C.對于定量要求高的情況,選擇水平線性好的儀器
D.對于定位要求高的情況,選擇垂直線性好的儀器
A.對于分辨力要求高的情況,選擇窄頻帶儀器
B.對于衰減大的情況,選擇寬頻帶儀器
C.對于定位要求高的情況,選擇水平線性好的儀器
D.以上都正確
A.檢測大厚度件,選擇較低的頻率有利于減少聲程衰減
B.檢測小厚度件,選擇較高的頻率有利于提高表面缺陷的檢測能力
C.檢測表面粗糙件,選擇較低頻率有利于減少表面散射損耗
D.以上都正確
A.儀器的頻帶寬度
B.檢測頻率
C.探頭
D.以上都是
A.儀器的頻帶寬度
B.檢測頻率
C.聲入射方向
D.以上都是
最新試題
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當提高后的靈敏度叫做()。
單探頭法容易檢出()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
調(diào)節(jié)時基線時,應使()同時對準相應的聲程位置。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。