A、采用當(dāng)量試塊比較法測(cè)定的結(jié)果
B、對(duì)大于聲束的缺陷，采用底波對(duì)比而測(cè)得的結(jié)果
C、根據(jù)缺陷反射波高和探頭移動(dòng)的距離而測(cè)得的結(jié)果
D、缺陷定量法之一，和AVG曲線的原理相同
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A、窄脈沖
B、衰減
C、波型轉(zhuǎn)換
D、粗晶
A、底面反射
B、表面反射
C、缺陷反射
D、雜波
A、結(jié)構(gòu)反射和變型波
B、板材底面回波
C、三角反射
D、以上全部
A、側(cè)壁干擾
B、61°角反射波
C、工件底面不平
D、以上都對(duì)
A、應(yīng)使用直探頭
B、要使用大晶片探頭
C、壓電元件應(yīng)在其基頻上激發(fā)
D、探頭的頻帶應(yīng)盡可能寬
最新試題
磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和（）兩種測(cè)量方法。
渦流檢測(cè)線圈的互感線圈一般由（）構(gòu)成。
根據(jù)檢測(cè)對(duì)象和目的的不同，渦流檢測(cè)儀器一般可分為（）、渦流電導(dǎo)儀和渦流測(cè)厚儀三種。
各類(lèi)渦流檢測(cè)儀器的工作原理和（）是相同的。
對(duì)檢測(cè)儀的時(shí)間基線進(jìn)行校正后，缺陷的埋藏深度可從熒光屏的（）上讀出。
用于測(cè)量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì)，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測(cè)量黑光。
對(duì)于長(zhǎng)條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。
（）件對(duì)不同類(lèi)型的檢測(cè)對(duì)象和要求，采用的方式各有不同。
鑄件超聲檢測(cè)的特點(diǎn)是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射，相應(yīng)的可檢缺陷尺寸（）
特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì)，它反映子實(shí)體滿足需要的（）