A、水洗型熒光滲透探傷
B、后乳化著色探傷
C、溶劑清洗型著色探傷
D、后乳化熒光滲透探傷
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A、黑光
B、紫外光
C、紅外光
D、以上都不是
A、為了可以算出缺陷的大小和深度
B、為了反映是否有足夠的探傷靈敏度
C、為了確定滲透劑是否還有足夠的熒光強(qiáng)度
D、以上都對
A、對顏料有較大的溶解度
B、表面張力不宜太大，具有良好的滲透性
C、具有適當(dāng)?shù)恼扯群蛯ぜo腐蝕性
D、上述三點(diǎn)都有應(yīng)具備
A、能很快地滲入細(xì)微的開口中去
B、揮發(fā)快
C、能保留在比較大的開口中
D、探傷后容易從零件表面上去除掉
A、毛細(xì)管作用
B、顯像劑在裂紋中擴(kuò)展
C、提供均勻的薄膜層
D、將缺陷中的滲透液溶解
最新試題
在聲束垂直試件表面時(shí)，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
用于測量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì)，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測量黑光。
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
對于長條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。
（）件對不同類型的檢測對象和要求，采用的方式各有不同。
掃查方式一般視試件的（）而定。
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置在（）材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。
鑄件超聲檢測的特點(diǎn)是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射，相應(yīng)的可檢缺陷尺寸（）
直接射向缺陷的波就是（）
采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。