A.不受工件底面狀況影響
B.不需要考慮傳輸修正
C.適用于厚度大于3N的工件
D.以上都是
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.根據(jù)入射角度不同，試件中可同時(shí)產(chǎn)生縱波和橫波
B.根據(jù)入射角度不同，試件中可產(chǎn)生純橫波
C.根據(jù)入射角度不同，試件中可產(chǎn)生表面波
D.以上都正確
A.掃查方式
B.掃查速度
C.掃查間距
D.以上都是
A.缺陷反射波高度
B.背反射損失
C.沿試件表面測(cè)量出的缺陷延伸范圍
D.以上都是
A.在確定的檢測(cè)條件下，缺陷的大小可用波高值來表示
B.缺陷反射面小于入射聲束截面時(shí)，可用底面回波高度法進(jìn)行評(píng)定
C.缺陷回波幅度與人工反射體回波幅度進(jìn)行比較，稱為當(dāng)量評(píng)定法
D.以上都是
A.試塊對(duì)比
B.當(dāng)量計(jì)算
C.AVG曲線
D.以上都是
最新試題
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。