A.缺陷反射波高度
B.背反射損失
C.沿試件表面測量出的缺陷延伸范圍
D.以上都是
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A.在確定的檢測條件下,缺陷的大小可用波高值來表示
B.缺陷反射面小于入射聲束截面時,可用底面回波高度法進行評定
C.缺陷回波幅度與人工反射體回波幅度進行比較,稱為當(dāng)量評定法
D.以上都是
A.試塊對比
B.當(dāng)量計算
C.AVG曲線
D.以上都是
A.將接觸法檢驗改為液浸法檢驗
B.將縱波檢驗改為橫波檢驗
C.用直徑較小的探頭進行檢驗
D.用直徑較大的探頭進行檢驗
A.φ0.8mm
B.φ1.0mm
C.φ2.0mm
D.φ4.0mm
A.φ0.8mm
B.φ1.0mm
C.φ2.0mm
D.φ4.0mm
最新試題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
當(dāng)縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
儀器水平線性影響()。
調(diào)節(jié)時基線時,應(yīng)使()同時對準相應(yīng)的聲程位置。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。