A.根據(jù)入射角度不同,試件中可同時產(chǎn)生縱波和橫波
B.根據(jù)入射角度不同,試件中可產(chǎn)生純橫波
C.根據(jù)入射角度不同,試件中可產(chǎn)生表面波
D.以上都正確
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.掃查方式
B.掃查速度
C.掃查間距
D.以上都是
A.缺陷反射波高度
B.背反射損失
C.沿試件表面測量出的缺陷延伸范圍
D.以上都是
A.在確定的檢測條件下,缺陷的大小可用波高值來表示
B.缺陷反射面小于入射聲束截面時,可用底面回波高度法進行評定
C.缺陷回波幅度與人工反射體回波幅度進行比較,稱為當量評定法
D.以上都是
A.試塊對比
B.當量計算
C.AVG曲線
D.以上都是
A.將接觸法檢驗改為液浸法檢驗
B.將縱波檢驗改為橫波檢驗
C.用直徑較小的探頭進行檢驗
D.用直徑較大的探頭進行檢驗
最新試題
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度,即()。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當提高后的靈敏度叫做()。