A.表面分辨力
B.探測(cè)靈敏度
C.縱向分辨力
D.橫向分辨力
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.表面分辨力
B.探測(cè)靈敏度
C.縱向分辨力
D.橫向分辨力
A.表面分辨力
B.探測(cè)靈敏度
C.縱向分辨力
D.橫向分辨力
A.調(diào)整回波在顯示屏上的幅度
B.調(diào)整聲程
C.改變時(shí)間電路輸出的鋸齒波電壓的斜率
D.B和C
A.掃描電路
B.發(fā)射電路
C.動(dòng)態(tài)范圍
D.放大倍數(shù)
A.信噪比較低的探頭
B.寬頻帶探頭
C.分辨力較高的探頭
D.以上都對(duì)
最新試題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
單探頭法容易檢出()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。