A.堿性類
B.甘油類
C.硅基類
D.以上都不適用
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A.水基類
B.甘油類
C.硅基類
D.堿性類
A.堿性類
B.甘油類
C.硅基類
D.以上都不適用
A.根據(jù)探測(cè)范圍選擇適當(dāng)厚度的試塊,以一次底回波設(shè)定
B.根據(jù)探測(cè)范圍選擇適當(dāng)厚度的試塊,以兩次以上底
C.可以按被檢材料聲速設(shè)定,而不需要使用試塊
D.以上都可以
A.可以利用被檢件底面回波調(diào)整時(shí)基線;
B.利用兩次或兩次以上回波作為基準(zhǔn)回波;
C.調(diào)整時(shí),應(yīng)同時(shí)校正零位;
D.以上都是。
A.已知厚度的大平底零件
B.標(biāo)準(zhǔn)試塊
C.對(duì)比試塊
D.以上都可以
最新試題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。