A.雙壁單影透照像質(zhì)計放置在膠片側(cè)
B.當像質(zhì)計放置在膠片側(cè)時,應(yīng)在像質(zhì)計上適當位置放置鉛字“F”作為標記,“F”標記影象應(yīng)與像質(zhì)計的標記同時出現(xiàn)在底片上,且應(yīng)在檢測報告中注明
C.單壁透照時允許像質(zhì)計放置在膠片側(cè),但必須進行對比試驗
D.當一張膠片上同時透照多條焊接接頭時,至少在第一條、中間一條和最后一條焊接接頭處各放一個置像質(zhì)計
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.X射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓
B.γ射線照相時,總的曝光時間應(yīng)不小于輸送源所需時間的10倍
C.X射線照相,當焦距為700mm時,曝光量的推薦值為:AB級不小于15mA.min
D.X射線照相在采用較高管電壓時,應(yīng)保證適當?shù)钠毓饬?/p>
A.電源電壓下降超過10%時,黑光燈輸出功率將大大降低
B.電源電壓波動超過10%時,對人眼損傷較大
C.電源電壓過低嚴重影響檢測靈敏度
D.電源電壓過高嚴重影響黑光燈壽命
A.試塊清洗后,放在酒精溶液中保存
B.施加滲透劑可直接進行刷涂
C.施加滲透劑不能用噴涂方法
D.熒光滲透檢測用試塊可用于著色滲透檢測
A.滲透檢測質(zhì)量分級考慮到了缺陷性質(zhì)、數(shù)量、尺寸和密集程度
B.圓形缺陷的分級既限定了單個缺陷最大尺寸,又限定了缺陷密集程度
C.焊接接頭不允許存在橫向線性缺陷顯示
D.評定框內(nèi)同時存在線性缺陷和圓形缺陷時,應(yīng)進行綜合評級
A.干式顯像劑應(yīng)對其比重進行經(jīng)常校驗
B.干式顯像劑應(yīng)經(jīng)常檢查粉末凝聚
C.干式顯像劑應(yīng)經(jīng)常檢查殘留熒光
D.干式顯像劑對工件無腐蝕
最新試題
物質(zhì)對輻射的吸收是隨什么而變()
射線照片上細節(jié)影像的可識別性主要決定于()
底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是()
對于平行于檢測面的缺陷,一般采用()檢測。
發(fā)生康普頓散射的條件是()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(r、R為簡體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
下列對耦合劑應(yīng)該具有的特點的描述,不正確的一項是()
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
射線照片上一個細節(jié)的影像是否能被眼睛識別出來,最主要的是決定于()
超聲波斜探頭的K值等于()的正切值。