A.由于缺陷取向的影響;大尺寸缺陷的回波比小尺寸缺陷的回波高
B.由于缺陷形狀的影響;圓片形缺陷的回波比圓柱形缺陷的回波高
C.由于缺陷性質(zhì)的影響;氣孔缺陷的回波比夾雜缺陷的回波高
D.由于缺陷表面的影響;對(duì)于傾斜缺陷,粗糙面的回波比光滑面的回波高
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你可能感興趣的試題
A.有已知聲速的平面試樣
B.待測件厚度可以測量
C.時(shí)基線調(diào)整要準(zhǔn)確
D.以上都是
A.用已知厚度試塊,通過校準(zhǔn)進(jìn)行測量
B.為了準(zhǔn)確測量,需要使用不同厚度的兩塊試塊進(jìn)行校準(zhǔn)
C.測量時(shí),需要了解被測件的聲速
D.以上都是
A.5mm
B.10mm
C.20mm
D.40mm
A.5mm
B.10mm
C.20mm
D.40mm
A.會(huì)使聲束產(chǎn)生彎曲現(xiàn)象
B.會(huì)產(chǎn)生固定的遲到回波
C.聲束在側(cè)壁上會(huì)產(chǎn)生變型波
D.以上都有可能
最新試題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
超聲檢測對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。