A.斜射縱波
B.斜射橫波
C.表面波
D.都可以
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A.斜楔材料的縱波聲速小于工件中的橫波聲速
B.斜楔材料的縱波聲速大于工件中的橫波聲速
C.斜楔材料的縱波聲速大于工件中的縱波聲速
D.以上都是
A.各種尺寸的體積缺陷
B.小于聲束截面的缺陷
C.大于聲束截面的缺陷
D.評(píng)定缺陷尺寸僅與參考試塊有關(guān)
A.當(dāng)量法
B.缺陷回波高度法
C.底面回波高度法
D.以上都可以
A.當(dāng)量法
B.缺陷回波高度法
C.底面回波高度法
D.缺陷指示長(zhǎng)度測(cè)定法
A.制作同厚度的直徑3.2mm平底孔參考試塊用于調(diào)整起始靈敏度
B.按直徑3.2mm當(dāng)量值計(jì)算法調(diào)整起始靈敏度
C.找出該鋁件底波后增加20dB作為起始靈敏度
D.采用厚度100mm參考試塊、分區(qū)域調(diào)整起始靈敏度
最新試題
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
()是影響缺陷定量的因素。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。