測定組合靈敏度時，應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進行測試。

縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。

縱波斜探頭法的優(yōu)點是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時用縱波和橫波進行缺陷檢測。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點之一是可以測定斜探頭的分辨力。

標準試塊的材質(zhì)應(yīng)盡可能與被檢工件相同或相近。

多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。

串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。

曲面工件探傷時，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。

底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。

軟保護膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。