單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。

串列法探傷適用于檢測(cè)垂直于探測(cè)面的平面缺陷。

當(dāng)量法用來(lái)測(cè)量大于聲束截面的缺陷的尺寸。

橫波法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面成一定傾角的缺陷。

雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。

斜探頭中，楔塊的作用是使縱波斜入射到工件中，通過(guò)波型轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波、表面波或板波。

與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。

斜探頭楔塊上部和前部開(kāi)消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。

測(cè)定“始脈沖寬度”時(shí)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。

軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對(duì)探傷的影響。